合金分析儀的工藝原理介紹

　　用于合金和金屬檢測的合金分析儀可為用戶提供極為精細的材料化學成份信息，從而可以迅速地辨別合金的牌號和純金屬。從簡單的分揀到富于挑戰(zhàn)性的牌號區(qū)分，從來料檢測到產品的校驗，會在數(shù)秒內得到合金的化學成份信息及牌號ID。該產品廣泛應用于質量控制、合金鑒別、材料分類、安全防范、事故調查等現(xiàn)場應用情景中，合金號鑒別、金屬成分快速分析，解決工業(yè)化基礎的原材料分析難題。

　　合金分析儀采用的是一種XRF光譜分析技術，可用于確認物質里的特定元素， 同時將其量化。它可以根據X射線的發(fā)射波長(λ)及能量(E)確定具體元素，而通過測量相應射線的密度來確定此元素的量。

　　每一個原子都有自己固定數(shù)量的電子運行在核子周圍的軌道上。而且其電子的數(shù)量等同于核子中的質子數(shù)量。

　　從元素周期表中的原子數(shù)我們則可以得知質子的數(shù)目。每一個原子數(shù)都對應固定的元素名稱，例如鐵，元素名是Fe，原子數(shù)是26。

　　能量色散X螢光與波長色散X螢光光譜分析技術特別研究與應用了里層三個電子軌道即K，L，M上的活動情況，其中K軌道接近核子，每個電子軌道則對應某元素一個個特定的能量層。

　　在XRF分析法中，從X光發(fā)射管里放射出來的高能初級射線光子會撞擊樣本元素。這些初級光子含有足夠的能量可以將里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時，原子變成了不穩(wěn)定的離子。

　　由于電子本能會尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會進入彌補內層的空間。在這些電子從外層進入內層的過程中，它們會釋放出能量，我們稱之為二次X射線光子。而整個過程則稱為螢光輻射。

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